SineTest

下面是一些令人激动的行业内领先的Mosfet测试方案:

1. 8 sites DC+UIL+Rg wafer sort solution -- 现在越来越多的MOSFET需要在圆片级进行DC+AC的全部复杂测试,这样对圆片的质量有更好的掌控,,对于成品测试也可以更加灵活的设置要求.SineTest根据客户的要求,推出了已量产的8工DC+AC测试方案,根据需要可扩展至更多工位!

2. 32 sites DC wafer wafer test solution(1000v/20A) -- 现在Mosfet做的越来越小,有时一张8“的圆片上有超过20万颗die,这时候就需要更多site的测试方案,我们根据客户需要推出了32工位的圆片测试方案,极大的提高了一套设备的单位小时产出。

该方案利用了公司独有的集高压大电流于一体的分立器件直流测试模块(单个模块能达到1200V/100A,专利申请中。。。),整个测试方案中可以配置32路并行的大电压和大电流源,这样省略了大量的大电流大电压测试时的切换时间,极大地提高了效力。

3. Drain to Drain dual die test solution -- 为Non BGBA的wafer也提供测试方案,目前大量高端客户已经采用了相当复杂的双MOS甚至4MOS BUMPING的方案,对测试也提出了新的要求,不单单是测试直流参数,也需要测试UIL等参数。

4. Index Parallel Solution - 专为测试要求复杂的MOSFET开发的成品测试方案,测量范围包括(DVSD+DC+UIL+Rg etc...),不同工位同时测试不同项目, 生成同一个Datalog, 能实现100%的在线QA.

Each station use dedicated instrument and has same or different test items
每一站都用单独的模块来测试, 可测试相同或不同的项目。

Total test time is decided by the longest test time station.
总的测试时间由最长的一站来决定,合理分配使每站测试时间接近于相同。

Finally will have one datalog。
多站但拥有一个datalog文件。

Can have real on line 100% DC QA with separate DC test module
QA站利用不同模块来测试,能够实现真正意义上的在线100%QA测试,确保出货100%良好。

Benefits:

Improve the UPH(理论上可达到机械手的最高UPH)
Better accuracy(100% QA)

所有方案都有防呆设计,用户不会因为疏忽而产生误操作引起生产故障。