Products - ATE

这里我们列举一些行业内领先的测试方案,和大家分享和共同进步!

Analog IC/ Mixed-Signals

1. VI源具备AWG/Digitizer在测试电压/电流反转点时的巨大优势

SineTest每路VI源都配置独立的高速AWG和Digitizer,可以用扫频的方法来快速精确的测量到电压电流的反转点.详情参考: Vtrig/Itig Test with AWG/Digitizer

2. 利用通用VI源的浮地及AWG/DIGITIZER功能来测试音频产品

SineTest的VI源都是浮地的,在差分测试时非常方便使用(如Vp_p),同时本身能产生和测量正弦波的失真度(THD),相当于配置了多路甚至几十路的音频源和测量断口,可以真正实现多工位的音频产品测试,详情参考: Audio IC test with FVI45

更多优秀的方案...

Discrete

1. 4 sites DC+UIL+Rg wafer sort solution(can expand to 8 sites even 16 sites) --现在越来越多的MOSFET需要在圆片级进行DC+AC的全部复杂测试,这样对圆片的质量有更好的掌控,,对于成品测试也可以更加灵活的设置要求.SineTest根据客户的要求,推出了已量产的4工位DC+AC测试方案,根据需要可扩展至更多工位,详情请参阅4 Sites DC+AC solution...

我们还有成熟的高压MOS 8site的CP/FT测试方案,电压可至1000V.

2. Index Patallel Solution-专为测试要求复杂的MOSFET开发的方案,测量范围包括DVSD+DC+UIL+RG(QG/CG etc...),不同工位同时测试不同项目,同一个Datalog, 参靠具体方案...

常见问题及解答Q&A:

1. VI源的应用

2. 校正及自检

3. 维修常见问题

4. 其他